此条目需要补充更多来源。 (2022年9月)请协助补充多方面可靠来源以改善这篇条目，无法查证的内容可能会因为异议提出而被移除。致使用者：请搜索一下条目的标题（来源搜索："电路测试" — 网页、新闻、书籍、学术、图像），以检查网络上是否存在该主题的更多可靠来源（判定指引）。电路测试（In-circuit test），也称为在线测试，ICT或ICT测试，是用电子探针对印制电路板（PCB）的测试，属于白盒测试，可以测试电阻、电容、电感等电路元件的开路及短路，以及一些电路元件是否有正确组装的资讯[1]。电路测试可以用针床测试制具进行，也可以用特殊的测试设备，或是无治具电路测试（fixtureless in-circuit test）设备来进行。
电路测试的治具[编辑]
电路测试常会配合针床测试制具（英语：Bed of nails tester）进行，此治具上面有许多称为pogo pin的弹簧销。在配合电路板测试时，将电路板对准针床，并加压力使电路板和针床接触，弹簧销会接触到电路板事先规划的金属导体测试点，因此可以透过这些测试点进行电路测试。针床测试设备的优点可以同时进行多个测试，不过在测试时会让电路皮承受很大的压力。
飞针测试（英语：flying probe）是另外一种测试的方式，对电路板施加的压力会比较小，不过在测试时，飞针需在各测试点之间移动，速度较慢。
测试程序的范例[编辑]
将电容器（特别是电解电容器）放电。这项是为了安全性以及量测稳定性的考量，需在其他测试项目之前优先进行。
接触测试（确认测试系统已连接上被测器件）。
短路测试（测试焊点是否有短路和开路）
类比测试（测试所有类比元件的位置及阻值容值是否正常）
测试元件是否有已损坏的开路引脚。
测试电容极性是否正确。
类比电路送电（确认稳压器及运算放大器等元件是否正常
JTAG边界扫描测试[2]
测试Flash memory、EEPROM及其他储存装置
待测设备断电后，将电容器放电。
相关技术[编辑]
以下列举在制造电路板时，测试电路是否正常的技术：
在印制电路板还没有零件时，进行的印制电路板测试
AXI（自动X光检测（英语：Automated x-ray inspection））
JTAG（边界扫描技术）
AOI（自动光学检测）
功能测试（如验收测试或FCT（英语：FCT (test)））
限制[编辑]
电路测试也有一些测试上的限制：
若是多个相同种类的元件并联（例如二个电阻），测试时常会当成一个元件。
电解电容器的极性只有在特定情形下（例如没有并联在电源回路上）才能测试，或是要透过特定感测器才能测试。
若要用电路测试来测试电路接点的品质，需要有额外的测试点，或是专用的线材harness。
电路测试的品质也会受到电路板设计的品质影响。若电路设计时没有规划测试用的电路，就无法进行对应的测试（可测试性设计）。
参考资料[编辑]
^ About Teradyne. Teradyne Corp. [28 December 2012]. （原始内容存档于15 February 2014）.
^ Jun Balangue, “Successful ICT Boundary Scan Implementation,” CIRCUITS ASSEMBLY, September 2010. http://www.circuitsassembly.com/cms/magazine/208-2010-issues/10282-testinspection （页面存档备份，存于互联网档案馆）
外部链接[编辑]
In-Circuit Test Tutorial （页面存档备份，存于互联网档案馆）